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发表于 2008-11-25 13:53:32
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1.CPK是长期的过程能力,适合于批量生产过程" U3 Y% P" m) G
CPK是有偏移情况下的过程能力指数,产品特性均植与公差中心不重合时加以修正用;
M' h5 g9 `2 m$ a2.无偏移时CP表示过程加工的质量能力,CP越大,质量能力越强,有偏移时,CPK表示过程中心与公差中心的偏移情况,CPK越大,两者偏离越小,表示的是质量能力与管理能力的综合结果。
& ]) h! z$ c8 ~C系列的过程能力指数是指过程的短期短期过程能力指数,P系列的过程能力指数是指过程的长期过程能力指数,使用PP和PPK的好处是可以反映系统当前的实际状态,而不要求在稳态下才可以进行计算。+ U8 a3 ?2 f! a3 a7 a/ _5 t! D
3.PPK是短期的过程能力,适合于试生产过程,确定上下控制线,进行现场控制
$ b7 h3 r- q# v0 S7 XPPK是QS9000提出的一个新概念,物理含义是不论分布在公差范围内任何位置,它对于上规范限都可以计算出一个上单侧过程性能指数PPU和下单侧过程性能指数PPL,取两者之间最小的一个,就是PPK8 R& c& B$ A: N4 S5 E, J$ D
4.CMK也是短期的过程能力指数,是针对设备能力的,主要在新采购的设备、设备调试结束后、出现产品质量问题等时候进行cmk测定,它是vda的要求# H+ H1 Z- W% g6 F& ?
PPK:短期能力指数,一般是在过程的初期计算,因为这个时候的过程受到人、机、料、法、环的特殊原因影响,导致过程不稳定。这个时候的首要任务是让过程稳定下来,因此此时应连续监控过程或在较短时间内分组来监控过程,计算出来的能力指数就是PPK。I
9 w& C8 T4 R, oCPK:长期能力指数,该指数必须是在过程人、机、料、法、环、测都稳定的情况下计算,也就是在初始研究后,你的控制图显示过程要受控后,方可开始研究CPK。这个时候分组的时间间隔应该较长,以反映过程在较长时间内的误差(也就是子组之间的误差),应当忽略在较短时间内抽样的误差(也就是子组内的误差)。
0 A% ]: B* o3 A$ Q: i. MACMK:设备能力指数,跟PPK有相似之处,不同的在于它侧重反映设备满足特性的程度,要求必须将人、料、法、环标准化,只反映设备的影响。因此它的抽样一般是短时连续抽样,以排除人员、材料、加工方法和环境的影响,通常CMK中包含了测量系统的变差。" L& F0 c* u8 y
计算PPK时,西格玛应按照统计学上定义的标准差计算方法进行计算,以反映抽样样本的整体标准差。
- Q: @/ T( ]6 c/ `2 p* E6 o1 B计算CPK时,由于存在抽样风险,因此西格玛采用估计值,即S=Rbar/d2,在过程稳定的情况下,与统计学公式计算出来的标准差误差不大。(这也是为什么计算CPK要求过程稳定的原因)
/ G" Y6 C* M( E8 t8 d4 o) H7 v计算CMK时,西格玛的算法与计算PPK一样。
$ r/ v3 g0 @' _PPK:是按每100万产品的概率来推算的,即是在按100%的基础上来推导到每100万产品的过程能力.所以过多的体现在六西格玛的领域.从我个人的理解来说PPK是在无偏移的情况下的每100万产品中来计算的过程能力.并不是初期的过程能力,在过程不受控的情况下,是不能计算过程能力的,而且也没有必要,只是说当你不知道一个过程是否受控,所以一开始就去计算.但这个时候发现不了多少问题. |
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