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应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

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发表于 2007-8-14 20:24:18 | 显示全部楼层 |阅读模式

以下是我的个人观点,请大家讨论

v- r& n( N/ @9 `! S# i c" K) ^

1.应变式传感器
  应变式传感器是把力的变化转换成电阻值的变化来进行测量的,应变片是由金属导体或半导体制成的电阻体,其阻值随力所产生的应变而变化。应变效应是导体受机械变形时,其电阻值发生变化的现象

6 T/ c. @. T8 b; O" X3 w

2. 压阻式传感器 
压阻式传感器的灵敏度比金属丝式应变片的灵敏度高,其精度好,而且响应频率好,工作可靠,缺点是受温度影响较大,应进行温度补偿

% W* i+ _ J* ^: ~ V$ \/ m% J

压阻效应是物质受外力作用发生变形时,其电阻率发生变化的现象

2 z: E8 y2 f% ^" Z0 }4 F. o

3.压电式传感器
   压电式传感器的原理是基于某些晶体材料的压电效应,目前广泛使用的压电材料有石英和钛酸钡等,当这些晶体受压力作用发生机械变形时,在其相对的两个侧面上产生异性电荷,这种现象称为“压电效应”。

) c$ j4 V2 g+ E* r# z0 \

   压电式压力传感器不能用作静态测量,一般用于测量脉动压力,不能测量静压力;
   压电传感器产生的信号很弱而输出阻抗很高,必须根据压电传感器的输出要求,将微弱的信号经过电压放大或电荷放大(一般是电荷放大),同时把高输出阻抗变换成低输出阻抗,此信号才能被示波器或其他二次仪表接受

( b! c- A ^4 f" b3 @( ]1 }

 

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发表于 2007-8-15 00:32:02 | 显示全部楼层

Re: 应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

萧萧天竹 网友好!5 r* L! A6 A( ]1 ~* S
, T' N/ S. E6 E+ u
你在楼上的发言:压电式压力传感器不能用作静态测量,一般" ~- Q$ ^% ~4 h2 H  V  N, ]
用于测量脉动压力,不能测量静压力。
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你说的是对的!
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我有一个办法能够让“压电式压力传感测量静压力”,既:0 Z! }0 E6 {9 ^7 I' r
将压电传感器当做电容,做一振荡器,就可测量静压。
4 G9 U% C* M! [" b% [5 u. a' T- y/ p2 R; d( Q9 ]
其原理是:当压力变化时,振荡器的频率就会发生变化。+ q. y6 {; c. U+ ?

: p: B$ H  |6 e5 W) }6 bsyw  070815---00.31
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 楼主| 发表于 2007-8-15 10:15:24 | 显示全部楼层

Re: 应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

原帖由 syw开门造车 发表* Q- }! W, p8 [3 u) S 萧萧天竹 网友好!

你在楼上的发言:压电式压力传感器不能用作静态测量,一般
用于测量脉动压力,不能测量静压力。

你说的是对的!

我有一个办法能够让“压电式压力传感测量静压力”,既:
将压电传感器当做电容,做一振荡器,就可测量静压。

其原理是:当压力变化时,振荡器的频率就会发生变化。

syw 070815---00.31

* U! s3 O, k+ O* [9 N) e# G

 

1 Q' l7 F `9 n) Z4 ]. {

测量静压与测量动压,用压电传感器测量有什么区别,我还是不懂

' K# u$ l+ _: ~8 ? ?0 }# v. x0 ]

其静压测量原理是:当压力变化时,振荡器的频率就会发生变化。这是个怎样的测量原理呢?

. q+ ]! s' E# |9 y

那动压测量原理是 当压力变化时,其电荷大小与压力成正比?

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发表于 2007-8-16 05:15:14 | 显示全部楼层

Re: 应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

萧萧天竹 网友好!- |  z% x8 j9 N7 I. e6 [- X
# u2 p8 g& U8 s8 y& s
不知你对LC和RC振荡电路是否了解。( h+ D0 v! Y2 K! p/ y
用“压电传感器”代替电路中的C,就能得到一个固有频率的振荡信号源。
7 g! ]* U% v0 I, \/ L" f1 i
4 O6 V8 n$ a+ A9 i用竹筷子“向压电传感器”施压,该电路的固有振荡信号的频率就会发生变化。' l; _! p7 g9 l; q. {

8 ?+ Q) j$ x; u' p. hsyw  070816---05.15
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发表于 2007-8-28 15:39:36 | 显示全部楼层

Re: 应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

二楼说得已经有实际的应用。

, N* @8 e( r1 Q5 G9 @

不知道两位对膜厚监控有没有了解?真空镀膜时,为了实时地检测沉积的膜的实际厚度,有一种技术就是用压电材料(石英)置于沉积室内和工件同时被镀膜。膜厚的变化(重量变化)会使石英受到的压力改变,从而这个晶振的频率发生漂移。从频率漂移量可以推论膜厚。

$ A9 ^7 I7 J% N; V0 B. ?

不过如果用这种方式测静压,貌似标定比较困难。如果动压叠加在上面的话,不知道压力变化频率和晶振频率的叠加是什么效果。信号处理俺不熟也。

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发表于 2009-8-17 15:56:27 | 显示全部楼层
不是很了解,学习下
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