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现有分离的:平面A 和 平面B,距离dis=200mm
0 g3 E8 F; k7 X& R' [# j K% n平面A上有target点 X,平面B上有target 点Y
* O6 d' o' I5 `- v' t! oX点固定,Y点可在平面B上移动。( L& H+ l0 q' o' R2 e
]: c% J* y4 I0 L
移动Y点,如何得知Y点,是否 与X点,同轴?(即共线于 X点为原点的平面A的法线上)/ B v, s) i( _& `5 Z6 C: r; |
同轴的精度要求,<0.1mm
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我的考虑: p! }4 P3 \9 D5 c- f6 S
1.镭射——落于平面A,leveling调整后,镭射打出一根双通的,垂直于平面A的“法线”。5 Y# y1 G( {: H! L& J% s. T
2.做治具,车一根200mm长的圆柱轴,精加工IT7级,两端同轴查表能<50um0 i* T+ c( i( @
上述两个方法的各自缺点: N1 n% ]) }: |; @, ^9 z
1.镭射本身的垂直度——查了几家的镭射仪,参数里没看到 镭射自身光线,相对leveling调整后平面的垂直度,不知道出厂有没有此保证值。
F' K. `6 S4 c2.镭射激光光斑大小——如果是肉眼看,最小的光斑也要mm为单位吧,光斑的中心还只能目测。
5 L. [( m9 x2 j) b7 c" V1 z3.治具的方法——平面A B上如果都是孔,治具还能用。但是针对A/B平面的target都是点,则治具……% Q$ {' u: o8 L6 G+ }, \: T+ q' @2 \
在治具中心点一个point? 或者是治具一端车成尖头? 但是这个又涉及到 点、尖头的直径问题。
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肉眼不可靠,考虑用相机、镭射接收器?但是这两者都需要放置于法线路径上,都会挡住任意一个点…* o- ~2 R3 O& A
- P4 E- g4 i' i. ]" O' i( ?
求教大家,有没有更好的办法?( z$ Z# F2 S }# T2 U- c+ V7 U. E% D
, r7 X: n3 @! t. a
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