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楼主: 淬火之铁

最近在设计一检测设备,请教

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发表于 2011-7-31 21:34:11 | 显示全部楼层
这个 你可以参考下半导体封测行业内的测试机,斜体的那种  等下我给你找个图片参考下
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 楼主| 发表于 2011-7-31 21:36:18 | 显示全部楼层
seebb 发表于 2011-7-31 21:34
这个 你可以参考下半导体封测行业内的测试机,斜体的那种  等下我给你找个图片参考下

好谢谢!

灰常谢谢!
谢谢.
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发表于 2011-7-31 21:42:48 | 显示全部楼层

测试分选

测试分选

分选部分

分选部分

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发表于 2011-7-31 21:47:04 | 显示全部楼层
设备的原理是  芯片从轨道上滑下,检测方向~放正位置~分离器~金手指测试~进入分选区~根据测试结果经滑车分别进入对应的料盒
希望能给你点启发
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发表于 2011-8-1 12:36:41 | 显示全部楼层
不知道楼主想表达个什么意思?期待……
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 楼主| 发表于 2011-8-1 17:20:18 | 显示全部楼层
seebb 发表于 2011-7-31 21:47
设备的原理是  芯片从轨道上滑下,检测方向~放正位置~分离器~金手指测试~进入分选区~根据测试结果经滑车分别 ...

对,我那也是这样的.


灰常谢谢.
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发表于 2011-8-8 09:16:31 | 显示全部楼层
说明的在详细些~~~~~~~~~~~~~~~~~
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发表于 2011-8-8 15:26:40 | 显示全部楼层
把产品的细节说清楚,好比那四个方面产生残次品
才能有的放矢
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