本次学习的内容是七个量具规程的宣贯，包括《通用卡尺检定规程》、《高度卡尺检定规程》、《杠杆千分尺》、《杠杆卡规检定规程》、《外径千分尺校准规程》、《内径千分尺检定规程》、《测量内尺寸千分尺校准规范》、《内径表校准规范》，宣贯内容较多，下面对其中需要注意的地方作简单说明。/ z0 m2 R* E& h, ]/ L! {
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JJG30-2002《通用卡尺检定规程》
+ J, n4 G7 g( j) L4.8数字显示器的示值稳定性, ~7 F. ?- U/ L1 Z' W6 E
本项目只适用于电子卡尺。由于该卡尺属于机电一体代量具，所以必须考虑它电气系统的时间稳定性，主要是由于传感器信号不稳定造成的。
3 l8 i1 U3 g1 Z$ U规程规定本项目的检定方法在测量范围内的任意位置紧固尺框；电子数显卡尺的示值稳定度以数字显示器示值的变化来确定，技术要求：1小时内显示值的变化不大0.01mm，而未要求连续观察。在进行这个项目的检定时，可将尺框固定的数字显示器卡尺放置在平板上，1小时后观察显示值的变化即可。; G* V: `7 A! @8 I/ [: }# a
' d$ H# D- A1 E5 u4.9示值误差的检定' ?+ v- e/ O8 A0 O
检定通用卡尺示值误差时所用的标准器为3级或6等量块，深度尺在1级平板上进行。2 o4 b* }6 S, K& K c b
应正确理解规程上表7中允许误差的含义。例一把测量范围为（0～500）mm的卡尺，其不同测量范围（0～120）、＞(150～200)、＞(200～300)、＞(300～500)mm的允许误差分别为±0.02、±0.03、±0.04、±0.05mm,若理解为在(0～500)mm的允许误差均为±0.05mm，那就是错误的。
, x7 B/ b5 j+ W4 v- c3 C由于通用卡尺在设计上不符合阿贝原理，为控制尺框沿全尺移动时产生的角位移，所以规程规定：检定时每一受检点应在量爪的里端和外端两面三刀个位置上检定，而且要求量块工作面长边和量爪测量面长边应垂直。
& Y' B8 V! ~& V/ N通用卡尺的示值误差是各受检点的函数，而且随着受检点数目增多，示值误差置信概率也会增加，因此希望受检点数目多一些。但为了减轻检定工作量，又要求尽量减少受检点的数目，为此规程根据通用卡尺示值误差的分布规律，确定了受检点均匀分布的选择原则，而且规定了受检点数目下限；即应在主标尺和游标尺（圆标尺）上均匀分布的三个位置上。大于300mm时主标尺应取均匀分布的六个位置，对受检点数目的上限则不予限制。对于测量范围大于1000mm的卡尺，其自重变形较大，应进行“平检”和“立检”两支放状态下的检定。平检：第一支点在主标尺零标记外测50mm以内，第二支点在尺框内测100mm以内，第三支点在测量上限标记外侧50mm以内。立检：用上述第一、二支点，当尾部发生偏重时可在第三支点处加辅助支撑，所用三个支点应等高。对天深度卡尺，检定时按受检尺寸依次将两组同一尺寸的量块平行放置在1级平板上，使基准面的长边和量块工作面的长边方向垂直接触，再移动尺身，使其测量面和平板接触，检定时，量块应分别置于基准面的里端和外端两位置检定。
! r9 k! G, k. m! G$ d对于带有深度测量杆的卡尺，深度测量杆检定时。用两块尺寸为20mm的量块置于1级平板上，使飞身测量面与量块接触，伸出测量杆测量面与平板接触，然后在尺身上读数。该点示值误差应不超过规定值。0 A; Y9 Y5 D* P( `! [& {7 S
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JJG31-1999《高度卡尺检定规程》/ a+ D- ]/ G0 U8 z( k4 x
3.4标尺标记宽度和宽度差
8 l% B' w1 v6 G! I0 l$ e此项技术要求是防止标记宽度过宽和过窄对读数准确性的影响和宽度差过大引起的读数误差。若标记宽度过细(≤0.08mn)，人眼睛的辨别困难，容易疲劳，过宽则影响估读的准确度。检定时在主标尺和游标尺及圆标尺的标记中分别选取至少3条标记线（可多于3条）用工具显微镜测量所选取的标记线宽的检定结果，再以标记线宽度检定结果中最大与最小值之差确定标记宽度差。抽检的标记（不少于3条）中，不允许任意一条标记的宽度超差，亦即不能取平均值作为标记宽度。
) `8 c9 {: U" d2 Q9 T# }% f主标尺和游标尺标记宽度和宽度差应分别测量和计算。
' N% F2 c" ~- w. D8 B0 D现在由于厂家采用了激光刻线的生产工艺，能保证此项要求，所以检定时一般用目力观测就可以了。5 F6 C2 k8 J' ?
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3.12数字显示器的示值稳定度
* o2 ? [1 q- \1 [与JJG30-2002《通用卡尺检定规程》同。
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" d, X* x l0 `! [4 ^$ VJJG24-2001《杠标千分尺、杠杆卡规检定规程》* L0 w8 o7 b7 H' T- \' @
4.9校对用量杆工作尺寸偏差和平行度
- Y3 a6 g, M7 f: N- }规程修订后，其允许值不变。但检定量杆工作尺寸偏差时，原规程是规定“5点上的尺寸偏差均应符合要求”，而新规程是规定“中心点进行3次读数，取算术平均值作为量杆工作尺寸偏差”。原规程只要求给出符合性，这是修定前后的区别点。而除中心点外的其他4点的尺寸偏差靠平行度控制。显然，新规程明确规定量杆工作尺寸偏差定在中心点，以便能给出量杆的合理实际尺寸，方便使用量杆时对尺寸偏差进行修正。
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* j8 y8 Q+ W) k+ U9 d: L, r4.4测量面的平面度 4.5杠杆尺两测量面的平行度
' O( [2 G [4 \) j! R形状和位置误差对示值误差有直接影响，一般要求形位误差应小于示值误差的1/5～1/2；由于杠杆千分尺测杆是螺旋旋转运动，其两测量面的相互平行度随测杆旋转而变化，所以检定平行度时在尺寸间隔依次为测杆1/4螺距的四处进行检定。该项对卡规不要求。* |/ S, e3 l; m
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JJF1088-2002《外径千分尺校准规范》
. ]6 q- n5 U( T" t s" d4.5微分筒锥面的端面边到固定套购筒管刻线面的距离
$ D; Z6 u; \: y可用塞尺检验，但要注意需要在最大偏心处检验才是正确的微分筒锥面的端面棱边至固定套筒管刻线面的距离。2 x! [" e& T% e! R# N$ ~% `
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5.2校准项目和标准器及其他设备+ u! m1 Y9 N+ e% K
* J4 {! i. c; B4 g3 y9 D3 y2 b& F1.测微螺杆的轴向窜动和径向摆动
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8 ?- r5 B4 N: N该项只作副件，包含在外观内，一般手感，无明显影响即可。这是因为只要千分尺的平行度达到要求就能保证径向摆动一项合格。4 _! O) u0 S( ?$ j: `
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& k3 z* @, J$ A- n3 t$ U, Y2.测砧工作面与测微螺杆工作面的相对偏移量" o% o u' M0 \/ ~6 l: v" o
. T; O0 [$ V) H2 `' B同样，该项只作副件，无明显影响即可。
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9 T5 ~- M7 p1 G5 J) ?$ w* ?* }6.8工作面的平面度* ?; D$ E2 T' h& T( R. E+ Q& Z
1 b {" z0 l/ ~: T用2级的平面平晶以技术光波干涉法校准。使用中和修理后的外径千分尺也可以用1级刀口尺以光隙法校准。但用刀口尺存在不合理之处，用刀口尺校准不确定度过大，无法达到要求，一般采用技术光波干涉法校准。0 k+ T. T/ e( ]- \' D
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+ T" E( z" |% k- S* y* ~0 p% h) rJJG22-2003《内径千分尺检定规程》3 J: K V g/ q/ S! N3 s# J6 W
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1． 新规程正文“1范围”中增加了“测微头示值范围13mm、25mm、50mm”，同时将原规程“测量范围至5000mm”改为“测量范围（50～6000）mm”。- B" Q/ O) h3 V* o# X5 d
0 i# j+ k. U/ s3 V修改原因：由于原规程在通用范围中未有提出测微头示值范围限制的条件，但在测微头示值误差检定时，表3中明确列出测微头示值范围为3种情况，为了前后统一，特此在正文中增加了测微头示值范围参数。明确了规程的适用范围；将测量范围（50～5000）mm改为（50～6000）mm，是因为即将通过的新国家标准案中将测量范围已扩至6000mm，同时生产厂家已生产有至6000mm的内径千分尺。
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2． 原规程“7.1要求”中“固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为（0.15±0.05）mm，刻线宽度差应不大于0.05mm”。改为“对固定套管直径不超过16mm的，固定套管上…刻线宽度为（0.10～0.20）mm，刻线宽度差不超过0.03mm；对固定套管直径大于16mm的…刻线宽度为（0.15～0.25）mm，刻线宽度差应不超过0.05mm”。
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原因：与GB 8177-87统一。
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/ E5 T- n- E1 } p) |3． 原规程“11测微头与接长杆的组合尺寸”表4中示值误差要求带±号，新规程不带±号。/ v* K0 z/ P8 _5 a( |! p( l0 j# o b
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原因：参考了内径千分尺国家标准和新的国标草案。
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JJF1091-2002《测量内尺寸千分尺校准规范》
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1． 取消了孔径千分尺级别要求
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; X9 ] U) k7 B" u- f原规程中孔径千分尺分为0级和1级，新规范取消了孔径千分尺的级别，示值误差的数值采用了原1级的要求。这是因为孔径千分尺的分度值虽然有0.005mm和0.01mm的两种，但由于千分尺结构原理的限制也很难估读到0.005mm，因此两种分度值的尺的准确度等级应是同一档次的，分级没有意义。) p! ^# G" M6 e! ~0 T3 b
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JJF1102-2003《内径表校准规范》: x+ j/ z6 n+ N0 `2 i% @# |
4 K$ n& s* Z g3 C! }- S4.5.1带定位护桥的内径百分表活动测头测力和定位扩桥的接触压力表4: D2 n/ S. n% K. ^
3 N" @ J' E1 n/ @, S根据其结构原理表4中定位护桥在任何位置接触压力均应大于活动测头的测力。
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2 w1 l0 ~" d! w# `4.5.2涨簧式内径百分表涨簧测头的测力表5- E, v, X4 \- m0 J F& E
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按实际使用情况，涨簧测头的测力应越小越好，这样可以避免对环规光面的磨损。所以只应规定上限，不规定下限。$ z0 N D4 E2 q1 d0 p
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6.7示值变动性
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即重复性。其实，自由状态下的变动性更重要，反应了限位可靠性。检定方法自由状态下重复推动测头5次，取读数最在值与最小值之差为校准结果。& c2 h! F/ J/ M4 a
0 e; d. D+ f8 M; I4 X, K除了规程学习外，本次培训还解释了计量标准的稳定性及计量标准的测量重复性定义。
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+ ?1 i- i9 E4 ~9 V3 @& V8 [# P计量标准的稳定性指计量标准保持其计量特性随时间恒定的能力。计量标准的测量重复性指在相同的测量条件下，重复测量同一被测量（稳定的被测对象），计量标准提供相近示值的能力。要注意的是计量标准仅为实物量具（如量具、砝码等）构成时，它不存在示值变化，所以对实物量具的构成的计量标准不需要进行测量重复性考核。# U% ` B) O, \$ F" ~ w; \9 K
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以上是我本次学习的小结，仅对重要部分作了列举说明，对变动不大的或容易理解的内容作了省略。 |
发表于 2007-11-28 14:18:00
很高興拜讀您的心得 , 我想買這些長度檢定規程 , 是否請告知如何買的到 , 是哪裡出版 , 我到處買不著