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求解形位公差的检测方法

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发表于 2016-8-28 10:24:18 | 显示全部楼层 |阅读模式
在测量某一形位公差时,往往会收到另一形位公差的干扰,比如,在测两个圆孔的轴线垂直度的时候,会受到两个圆孔的同轴度的影响,这样虽然能得到垂直度,但是垂直度里面有同轴度的影响,得到的垂直度不是很可信,那应该怎么正确的测量一个受到干扰的形位公差,还有有没有这样一种理论,就是两个形位公差相互干扰时,测得一个值,通过这个值的概率分布,可以得到这个值是同时满足两个形位公差。小弟愚昧,不知道这个问题提的对不对。/ T, P- i, {. D
小弟刚工作,还需要学习的很多,谢谢给位前辈的支点
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发表于 2016-8-28 13:46:48 | 显示全部楼层
两条圆孔轴线的垂直度,应该是没法测量的吧?孔轴线的垂直度一般是标注对平面的垂直度。
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发表于 2016-8-28 15:56:42 | 显示全部楼层
1.尺寸,形位公差原则的第一条就是独立原则
0 X# ?7 V/ M4 \  k6 m9 X2.上学时的书没丢,好好看看 《互换性与测量技术基础》
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