以下平面度和平行度的检测方法对么？

zlh19871029

如下图：
# ^/ l6 K: }7 V7 T9 W平面度：放在检测平台上，用塞尺塞；
平行度：放在检测平台上，平行度的面用百分表打。
请问，这个方法对么？（我的理解：该方法不可取，因为放在检测平台上，平面度会影响平行度，用百分表打的时候会将平面度引入）。   求高手指导。。。

找不回的账号

我上来蹭个问题。这是工件和检具的图（），工件四个孔直径6.7深10mm中心距60/40+-0.1，检具四个柱直径6.5长7中心距60/40。。。大侠们看看我理解的对不对.
( X( V; {( O8 S. L9 E2 z1.检测时先要确定工件的孔的直径，要是大于6.7，这个检具就检测就检测不出一些不合格零件了。。
, g7 A/ \: x7 l, Y0 Q1 y2.图纸上是独立原则，但是检具这样做是不是等于同时把 ‘孔径’跟 ‘'孔的位置度''关联起来了？还是独立原则吗？
4.同样类型的检具，应该怎么做？那几个圆柱是不是太长了？
加工出来的零件用卡尺测量符合要求，检具就是放不进去

虎啸而过

你都拿塞尺塞了，不说自身影响，如果没贴实打表结果也有误差。如果不考虑自身平面度打表还是可以的
试试三坐标测量
# U+ j( m" R- ]( E3 J愚见不对的话见谅

luxiang821

找不回的账号 发表于 2015-12-22 19:34
& `/ O- I6 X) W" {! ~我上来蹭个问题。这是工件和检具的图（），工件四个孔直径6.7深10mm中心距60/40+-0.1，检具四个柱直径6.5长 ...

/ x  q# y0 Z$ c& T  n" I你这个是功能量规（位置度量规）看国标GB8069-1998-T功能量规，有计算范例
3 v5 T  X* X0 k用功能量规检测孔组，肯定不是应用独立原则，应用的是最大实体原则，形位公差可以补偿尺寸公差。

luxiang821

你检测方法是没问题的
图纸标的有问题，基准平面度0.1，要求平行度0.05，本末倒置了。
基准的形状公差要比要求的位置公差小才对。
0 n+ I# c4 q8 a/ w2 n检平面度，拿塞尺塞是现场常用的一种方法，原理上认为，检测平台平面度是好的，拿塞尺衡量被测平面和平台的“贴合度”。
7 c2 `9 t) P: u/ g; N  S用这种方法如果碰到，被测平面是内凹的（也即中间低，周围高而且在一个平面上），那就有很大误差了。
检平行度，基准面和检测平台贴合(认为二者是一个平面，当然基准面平面度会带来误差，因此要求基准面平面度要小于平行度，一般是三分之一)，打表时表架贴合检测平台滑动，根据表针变化判定平行度为何。
每种检测方法都有它的优缺点，系统误差是无法避免的，要根据具体情况判定，影响的大小有所取舍。

niudong

用三坐标可能更精准些，打表时可以移动读数