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介绍三种常用的单片机系统RAM测试方法

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发表于 2011-7-4 16:22:01 | 显示全部楼层 |阅读模式
方法一:+ \8 w  S9 @6 b/ T- N4 r
参考文献中给出了一种测试系统RAM的方法。该方法是分两步来检查,先后向整个数据区送入#00H和#FFH,再先后读出进行比较,若不一样,则说明出错。
, m. }2 z! Y2 |: j; G; w. S方法二:
) n8 j( h5 i0 c$ l+ ?4 q方法1并不能完全检查出RAM的错误,在参考文献中分析介绍了一种进行RAM检测的标准算法MARCH—G。MARCH一G算法能够提供非常出色的故障覆盖率,但是所需要的测试时间是很大的。MARCH—G算法需要对全地址空间遍历3次。设地址线为”根,则CPU需对RAM访问6×2n次。
5 a3 z. y8 y( l方法三:
. v* R- ?: u, K参考文献中给出了一种通过地址信号移位来完成测试的方法。在地址信号为全O的基础上,每次只使地址线Ai的信号取反一次,同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持0不变,这样从低位向高位逐位进行;接着在地址信号为全1的基础上,每次只使地址线Ai的信号取反一次,同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持1不变,同样从低位向高位逐位进行。因此地址信号的移位其实就是按照2K(K为整数,最大值为地址总线的宽度)非线性寻址,整个所需的地址范围可以看成是以全0和全1为背景再通过移位产生的。在地址变化的同时给相应的存储单元写入不同的伪随机数据。在以上的写单元操作完成后,再倒序地将地址信号移位读出所写入的伪随机数据并进行检测。设地址线为n根,则CPU只对系统RAM中的2n+2个存储单元进行访问。
9 o! R) n( M* n  p# d
3 i0 s8 X5 c3 z3 S+ l+ k
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发表于 2011-7-4 20:23:53 | 显示全部楼层
这是啥啊?没看懂。
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