18782405936 发表于 2024-3-13 21:19:32

微米级别的误差如何从工艺或者装配检测时发现?

有一批精密零件,平面度要求0.005,因为数量较多,全部用三次元检测不可取吧?能用治具检测吗?能检测出来吗?

呵呵hahei 发表于 2024-3-14 07:50:05

0.005 除了用机器检测其他的检测不出来吧

627159748 发表于 2024-3-14 08:12:03

做一个0.003的检具出来

热青茶 发表于 2024-3-14 08:24:28

平面平晶

刘生693 发表于 2024-3-14 08:26:55

检测平面度的治具不好做吧,公差还这么小

yddbs 发表于 2024-3-14 08:42:06

视觉识别+激光测距应该可以检出来

美好生活001 发表于 2024-3-14 09:41:29

上图,看看可不可以做专用检具

siralop 发表于 2024-3-14 09:44:42

恐怕只能上设备了,单独的任何一个工具或者小型检具都无法实现平面度的检测吧。

sh1017lwd 发表于 2024-3-14 10:21:21

没用过这东西,卖家说能检

bravo090 发表于 2024-3-14 11:47:50

估计可以用光学方法吧,做个基准的玻璃啥的,看衍射
页: [1] 2
查看完整版本: 微米级别的误差如何从工艺或者装配检测时发现?